埃科光電 I-TEK - 大幅陣面掃描系列

大幅陣面掃描系列
大幅陣面掃描系列

 應用領域

高精度機械測量 

FPD3C 元件外觀檢測 

晶圓表面檢測 

電子元器件視覺檢測

SMT自動光學檢測

晶圓表面檢測

半導體封裝檢測

生物成像

醫學影像

型號解析度Pixel Size(µm)幀速率感光元件規格類型快門型錄
TS65MU30-5M/C 9344 * 70003.2μm * 3.2μm5.32fps-USB3.0CMOS全局
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