產品介紹
首頁 產品介紹 光源 同軸光源/ 特殊光源 IFV系列
Leimac - IFV系列
適用於 鏡面物體檢測 的照明。
利用 半透鏡(半反射鏡),可實現與相機 同軸照射 的光路設計。
特別適合用於 印字/文字檢查 以及 表面微細刮痕的正反射檢測。
亦可廣泛應用於 連接器端子間距量測、基板圖案檢查 等多種高精度檢測用途。
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