藥錠高速檢查-LEIMAC高速光源系統

藥錠高速檢查技術核心在於卓越的曝光控制與光源配置，依不同需求搭配高速影像捕捉的相機設備，並以MIL軟體進行瑕疵檢測。

技術亮點:

1. 極短曝光時間
藥錠高速檢查技術能夠在20μs的極短曝光時間內捕捉藥錠表面特徵，確保亮度與擷取效果的提升。

2. 高亮度多光源檢測
該技術利用多光源系統進行檢測，能夠從不同角度對藥錠進行全面觀察，特別是針對藥錠的橢圓形表面，提供更精確的影像資料。可以有效解決傳統單光源系統無法全面取像的問題。

3. 使用IJS-SS系列LEIMAC Super overdrive高速控制器與ISS系列光源
使用IJS-SS系列LEIMAC Super overdrive高速控制器，搭配ISS系列光源，這一組合不僅能在高速運行時提供穩定的光源控制，還能提升檢查的精度與效率，特別適用於高速運行的生產線上，確保每一顆藥錠都能經過嚴格檢查。

IJS-30M2-TP/SS >>詳細規格型錄

ISSDBA-45/20 >>詳細規格型錄

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